专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于扩展版图格式来加速版图加载的方法及系统-CN202211547551.0在审
  • 张雄波;胡滨 - 珠海市睿晶聚源科技有限公司
  • 2022-12-05 - 2023-03-14 - G06F30/392
  • 本发明公开了一种基于扩展版图格式来加速版图加载的方法及系统,包括:读取版图数据,获取每一CELL的信息并进行保存;判断每一CELL所包含的图形数量是否大于预设数量值;若是,则判定该CELL为大CELL,对大CELL进行划分,得到带有多个矩形区域的CELL,生成新的版图数据;读取新的版图数据,进行相交搜索,得到与视窗区域相交的CELL;针对相交的CELL中的大CELL,获取并加载大CELL中与视窗区域相交的矩形区域的信息,直接加载相交的CELL中其他CELL的信息,完成对新的版图数据的处理和查看。本发明达到了在不影响第三方EDA软件加载的前提下,提高包含有大CELL的版图文件的加载速度。
  • 一种基于扩展版图格式加速加载方法系统
  • [发明专利]一种视频播放Cell无间隔刷新的方法-CN201810165213.8有效
  • 郭艳杰 - 北京酷我科技有限公司
  • 2018-02-27 - 2020-10-30 - H04N5/76
  • 本发明涉及一种视频播放Cell无间隔刷新的方法,包括如下步骤:当视频播放Cell收到点击播放ClickPlay事件时,调用sharedInstance创建并返回视频视窗VideoBox单例,将返回的视频视窗VideoBox单例添加到视频播放Cell上,视频播放Cell发出视频播放请求给数据服务平台DataService,查询待播放视频的相关信息,当视频播放Cell触发Cell刷新事件时,视频视窗VideoBox单例继续进行视频播放,仅视频播放Cell进行刷新,视频播放Cell刷新完毕后,将视频视窗VideoBox单例恢复到视频播放Cell上。本发明,视频播放不受Cell刷新的影响,在数据源有改变时,Cell刷新不会导致视频播放卡顿,算法简单,效果好,提升用户体验。
  • 一种视频播放cell间隔刷新方法
  • [发明专利]快闪存储器参考电流的温度系数的调节方法-CN202310089446.5在审
  • 张伟岩 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-01-31 - 2023-04-25 - G11C16/06
  • 本发明提供了一种存储器参考电流的温度系数的调节方法,包括:将存储单元的所有cell按照读取电流大小分为第一组cell和第二组cell,其中,第一组cell的读取电流大于第二组cell的读取电流;将参考单元作为第三组cell;量测第二组cell温度系数;查找第三组cell中bit位为0的MOS管作为待调节MOS管;调节待调节MOS管的栅源电压和/或阈值电压,以使得第三组cell的电流的温度系数与第二组cell的平均电流的温度系数相同本发明调节了参考单元的温度系数,使得尾部cell的电流温度系数与参考单元的电流温度系数相同,从而使得参考单元的电流和尾部cell的电流是随温度同步变化的。
  • 闪存参考电流温度系数调节方法
  • [发明专利]一种测试差分存储结构芯片余量的方法-CN202111620238.0在审
  • 王鑫 - 上海奔芯集成电路设计有限公司
  • 2021-12-28 - 2022-04-05 - G11C29/12
  • 本发明公开了一种测试差分存储结构芯片余量的方法,包括以下步骤:S1、当差分存储结构芯片中左边cell为erase cell,右边cell为program cell时,在右边的电流支路增加一个外加的第一电流支路,右边的电流就变成program cell+第一外部电流,简写为ip+iex,ip+iex大于erase cell时,read出的数据fail,此时iex就是ie和ip的电流差,第一外部电流就是所需的erasecell和program cell电流的余量。本发明的有益效果是:针对传统测量cell margin方法的基础上,通过引入额外支路电流来对差分存储结构芯片测试中数据cell marign进行测量,通过将erase cell和与program cell加上额外支路的电流,即ie与ip+iex,进行比较来读出数据0和1,因此就能得出这两个cell电流的差值,即iex的值,这个差值就是差分存储器的真正余量,更加准确的表征了整个芯片的margin值。
  • 一种测试存储结构芯片余量方法

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